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CARGO 46: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE

ÁREA: MICROSCOPIA FORENSE

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Apostila de acordo com o edital

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Por apenas: R$ 40,00
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Obs: Pagamentos realizados através de boleto bancario sofrem acréscimo de 1 real.

Conteúdo da Apostila
(de acordo com o edital)

LÍNGUA PORTUGUESA

1 Compreensão e interpretação de textos.

2 Tipologia textual.

3 Ortografia oficial.

4 Acentuação gráfica.

5 Emprego das classes de palavras.

6 Emprego do sinal indicativo de crase.

7 Sintaxe da oração e do período.

8 Pontuação.

9 Concordância nominal e verbal.

10 Regência nominal e verbal.

11 Significação das palavras.

12 Redação de correspondências oficiais.

LÍNGUA INGLESA:

1 Compreensão de textos escritos em Língua Inglesa (ênfase em textos técnicos).

2 Itens gramaticais relevantes para a compreensão dos conteúdos semânticos.

ATUALIDADES:

Tópicos relevantes e atuais de diversas áreas, tais como segurança, transportes, política, economia, sociedade, educação, tecnologia, energia, relações internacionais, desenvolvimento sustentável e ecologia, suas inter-relações e suas vinculações históricas.

CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS:

1. Metrologia forense: Gestão da qualidade nas perícias forenses: importância, impacto, normas ABNT NBR ISO/IEC 17025, ABNT NBR ISO/IEC 17020; Organismos de acreditação para a área forense: importância, impacto, exemplos internacionais, Materiais de referência.

2. Manipulação de microvestígios de interesse forense para análise por microscopia: Vestígios, indícios, evidências; Cuidados na preservação; Coleta e armazenamento; Cadeia de custódia; Resíduos de tiro; Microcomparação balística;
Marcas de ferramentas; Fibras, etc.

3. Métodos microscópicos para análise forense de microvestígios: Microscopia eletrônica de varredura aplicada à análise forense; Espectroscopia por dispersão de energia aplicada à análise forense; Microscopia óptica de comparação aplicada à análise forense; Microscopia Raman aplicada à análise forense; Microscopia de luz polarizada aplicada à análise forense; Uso de materiais de referência na análise forense.